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B1505A 為 Agilent（現為 Keysight）推出的曲線追蹤儀（Curve Tracer）。曲線追蹤儀（又稱曲線測試儀）是一種電子測試設備，工程師可用來分析半導體元件的電性特性。

曲線追蹤儀內建電流與電壓源，用以激勵被測設備（EUT, Equipment Under Test）。在測試過程中，曲線追蹤儀會對 EUT 的兩個端點施加掃描電壓（swept voltage），並測量各電壓下的電流大小，從而取得元件的電流-電壓特性曲線。

Agilent 4155C 為一款半導體元件參數分析儀，是一種整合式測試設備，具備多種量測功能。它可用於量測與分析各類電子元件、材料、主動或被動元件、半導體，以及其他電子設備的電性特性。工程師可利用該設備監測不同元件在各種條件下的電流與電壓反應，進行特性分析與性能評估。

LCR 電橋是一種電子測試設備，用於測量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 與電阻 (R)。該儀器可精確量測元件的電性特性，通常在施加交流電壓 (AC) 的條件下進行。測試過程中，LCR 電橋會同時量測被測元件的電流與端電壓，以計算其電性參數。

Alpha100 4吋手動探針台具備精密的手動操作控制，提供極佳的平台穩定性以實現高準確度的對準測試。支援最大 4 英吋晶圓，是半導體測試與研究領域中，兼具高性價比與專業效能的理想選擇。

Alpha150 手動探針台專為6英吋 (150mm) 晶圓設計，讓研究人員能夠針對大尺寸半導體元件進行精確的電性測試。本系統在提供卓越測試能力的同時，保留了直覺的手動控制性能，確保探針定位與對準達到最佳精確度。

Alpha200 8吋手動探針台為大尺寸半導體元件量測提供了卓越的測試靈活性。本系統具備極其精密的手動控制性能，確保探針定位與對準的高精確度；其堅固耐用的結構設計能輕鬆適應各種嚴苛的測試環境，是研究開發（R&D）與學術應用的理想選擇。

AKD-1000 動態功率元件分析儀 — 雙脈衝測試器

Alpha300 12 吋手動探針台專為大尺寸晶圓設計，結合精確的手動控制與優異的探針定位能力，是研發環境中進行電性測試與特性表徵的最佳工具。

IC 觸控晶片
封裝後溫度變化測試平台
可進行 IC 封裝後之溫度變化測試
測試溫度範圍：-40 ～ 150 °C
可依 IC 封裝需求客製化可變溫測試頭

日本 APOLLOWAVE WAT 探針卡（低漏電，適用於高溫與低溫電性測試）
適用於半自動探針台及全自動探針台

日本 APOLLOWAVE RF 探針卡
適用於 RF／DC／PCM／WLR 量測

AP-200 8 吋半自動探針測試台配備馬達驅動載台，可進行精準對位；支援可程式化測試功能，有效提升測試流程效率。搭載高解析度光學觀察系統，並可支援最高 8 吋晶圓，滿足多元晶圓量測需求。