SJD AK-S、APW AP 系列

AP-150 六吋半自動探針台提供高精度的手動與自動晶圓量測能力，搭載馬達驅動平台移動系統，支援可程式化測試流程，確保探針定位精準穩定，並可相容最高 6 吋晶圓，適用於研發與生產測試需求。

AP-300 12 吋半自動探針台整合馬達化平台控制與可程式化測試功能，搭配高精度探針對位技術，可全面支援 12 吋晶圓量測需求。其穩定可靠的設計，為半導體元件提供高效率、高準確度的測試與特性分析解決方案，是研發與量產測試的理想選擇。

SJD AK-S-200 8吋半自動探針台提供精準的晶圓測試能力，採用半自動化控制設計，可支援最高 8 吋晶圓。具備高精度探針定位、直覺易用的操作介面，並具備高度彈性，適用於高功率、高頻率及高溫等多樣化測試應用。

AP-200 8 吋半自動探針測試台配備馬達驅動載台，可進行精準對位；支援可程式化測試功能，有效提升測試流程效率。搭載高解析度光學觀察系統，並可支援最高 8 吋晶圓，滿足多元晶圓量測需求。