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AP-150 六吋半自動探針台提供高精度的手動與自動晶圓量測能力，搭載馬達驅動平台移動系統，支援可程式化測試流程，確保探針定位精準穩定，並可相容最高 6 吋晶圓，適用於研發與生產測試需求。

Alpha200CS 這款 8 吋腔體式手動探針台提供精準的人控量測，並配備密封腔體以支援真空等特定受控測試環境，最大可相容 8 吋晶圓。

SJD AK-M-100 4英吋手動探針台 提供卓越的探針精密控制與高穩定性平台，確保精準對位，並可支援至4英吋晶圓。

SJD AK-M-150 6英吋手動探針台 專為研究人員設計，SJD AK-M-150 可針對大尺寸半導體元件進行精準的電性測試。其優異的手動操作設計，讓使用者在探針置放與對位時，能保有極致的掌控力與靈活性。

APOLLOWAVE 真空半自動探針台結合自動化探針定位與可控真空環境，在有效降低污染風險的同時，提供精準的半導體元件電性測試，確保測試結果可靠且準確。

B1500A 為 Agilent 推出的半導體元件參數分析儀。半導體元件參數分析儀是一種整合式測試設備，具備多元量測功能，適用於各類電子元件的電性量測與分析。
此類設備可用於量測與分析多種電子裝置、材料、主動或被動元件、半導體，以及其他各類電子設備的電性特性。工程師可透過此測試設備，監測不同元件在各種條件下的電流與電壓反應，以進行特性評估與分析。