日本 APOLLOWAVE WAT 高品質低漏電探針卡
產品特色
- 採用先進陶瓷（Advanced Ceramic）技術，有效降低漏電流與雜訊電流
- 低漏電設計，適用於高精度 WAT 電性量測
- 支援**高電壓（最高 3000V）及高電流（最高 100A）**應用（選配）
- 標準操作溫度範圍：-40°C 至 200°C
- 可承受瞬間最高 300°C 高溫環境，適用於嚴苛測試條件
- 採用小 Pad 技術（Small Pad Technology）
- 最小 Pad 尺寸可達 30 µm
- 單針可更換設計（One-pin replacement），大幅延長整體使用壽命
- 接觸壽命最高可達 1,000,000 次
- 穩定運作 超過 500,000 次 Touchdowns
- 快速維護設計，降低設備停機時間
- 提升整體測試效率與長期使用成本效益
- 適用於 4.5 吋 Probe Card Holder
- 相容 4060 / 4070 / 4080 系列測試機（Testers）