探針卡

日本 APOLLOWAVE WAT 探針卡（低漏電，適用於高溫與低溫電性測試）
適用於半自動探針台及全自動探針台

日本 APOLLOWAVE RF 探針卡
適用於 RF／DC／PCM／WLR 量測

Cantilever 結構設計，具備優異的成本效益

低電流與高溫量測用探針卡

採用同軸探針，實現卓越高頻特性

DC 多接點探針卡（DC Multi-contact Probe） 採用可安裝於與高頻探針相同 Positioner 的設計，支援隨機針距配置，並將 LCR 晶片貼近被測元件，以有效抑制振盪現象。該探針卡最多可容納 20 針位，並可依需求選用鎢（Tungsten）、鈹銅（BeCu）、鈀（Palladium）或銥（Iridium）等材質，兼具靈活性與高可靠性，滿足多點直流量測的應用需求。

適用高功率測試的探針卡
該高功率測試探針卡可承受超過 10 kV 電壓與 200 A 電流，有效防止高壓放電，採用 銥針 支援高電流，並可連接多種測量儀器，適用於開發階段及量產線使用。

該參數測試探針卡可在 低溫至高溫（-55°C 至 200°C） 環境下進行測試，能測量 極低電流 (<10 fA)，並兼容 Agilent 4060、4070 及 4080 系列 測量儀器。