Agilent

B1500A 為 Agilent 推出的半導體元件參數分析儀。半導體元件參數分析儀是一種整合式測試設備，具備多元量測功能，適用於各類電子元件的電性量測與分析。
此類設備可用於量測與分析多種電子裝置、材料、主動或被動元件、半導體，以及其他各類電子設備的電性特性。工程師可透過此測試設備，監測不同元件在各種條件下的電流與電壓反應，以進行特性評估與分析。

B1505A 為 Agilent（現為 Keysight）推出的曲線追蹤儀（Curve Tracer）。曲線追蹤儀（又稱曲線測試儀）是一種電子測試設備，工程師可用來分析半導體元件的電性特性。

曲線追蹤儀內建電流與電壓源，用以激勵被測設備（EUT, Equipment Under Test）。在測試過程中，曲線追蹤儀會對 EUT 的兩個端點施加掃描電壓（swept voltage），並測量各電壓下的電流大小，從而取得元件的電流-電壓特性曲線。

Agilent 4155C 為一款半導體元件參數分析儀，是一種整合式測試設備，具備多種量測功能。它可用於量測與分析各類電子元件、材料、主動或被動元件、半導體，以及其他電子設備的電性特性。工程師可利用該設備監測不同元件在各種條件下的電流與電壓反應，進行特性分析與性能評估。

LCR 電橋是一種電子測試設備，用於測量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 與電阻 (R)。該儀器可精確量測元件的電性特性，通常在施加交流電壓 (AC) 的條件下進行。測試過程中，LCR 電橋會同時量測被測元件的電流與端電壓，以計算其電性參數。