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採用同軸探針，實現卓越高頻特性

DC 多接點探針卡（DC Multi-contact Probe） 採用可安裝於與高頻探針相同 Positioner 的設計，支援隨機針距配置，並將 LCR 晶片貼近被測元件，以有效抑制振盪現象。該探針卡最多可容納 20 針位，並可依需求選用鎢（Tungsten）、鈹銅（BeCu）、鈀（Palladium）或銥（Iridium）等材質，兼具靈活性與高可靠性，滿足多點直流量測的應用需求。

適用高功率測試的探針卡
該高功率測試探針卡可承受超過 10 kV 電壓與 200 A 電流，有效防止高壓放電，採用 銥針 支援高電流，並可連接多種測量儀器，適用於開發階段及量產線使用。

該參數測試探針卡可在 低溫至高溫（-55°C 至 200°C） 環境下進行測試，能測量 極低電流 (<10 fA)，並兼容 Agilent 4060、4070 及 4080 系列 測量儀器。

Thermal Chuck提供精準的溫度控制，適用於半導體測試，並具備平整的工作面。

MJ-8／MJ-10 真空式探針測試台提供密封式測試環境，有效降低污染風險，確保測試穩定性；同時具備高精度探針對位能力與可控的測試條件，滿足高可靠度晶圓量測需求。

MBP-55 精巧型桌上型探針台是一款高度整合且輕量化的設備，專為晶片級 IV/CV 量測進行優化。本系統支援最大 50 mm 的樣品尺寸，具備量測低電流 IV、電容 CV 及射頻 (RF) 的能力，並兼具卓越的便攜性。