SJD AK-MS、AK-ACC

  1. SJD AK-MS、AK-ACC
one two four
  • Read More
    zoom type OM.jpg

    單筒型變倍金相顯微鏡 AK-MS-Z

    變倍型顯微鏡提供連續變倍功能與高解析光學系統，具備寬廣變焦範圍及大工作距離，可在不更換鏡頭的情況下，進行晶圓的多功能、精準觀察。
  • Read More
    1.jpg

    立體顯微鏡AK-MS-S

    立體顯微鏡提供寬廣的視野與長工作距離，並可透過鏡筒進行舒適的雙目觀察，增強景深感，使觀察晶圓或樣品時更加精準與自然。
  • Read More
    FS70-01.png

    旋轉鼻輪金相顯微鏡 AK-MS-M

    金相顯微鏡專為高解析觀察金屬表面而設計，搭載專用光學系統，可對拋光或蝕刻樣品進行精密觀察，並支援多倍率分析材料結構，滿足金屬材料研發與檢測需求。
  • Read More
    TXA probe-1.png

    SJD 三軸探針組

    三軸探針組專為精密電性測量設計，採用三層導電結構，有效降低雜訊並提升訊號品質，特別適合敏感半導體元件測試及高頻應用。
  • Read More
    coaxial_probe_arm.jpg

    同軸探針臂

    同軸探針臂透過中心導體與外層屏蔽設計，確保精準的電性接觸與測量，有效降低干擾並提供穩定訊號傳輸，特別適用於半導體元件與高頻 (RF) 設備測試。
  • Read More
    triaxial_probe_arm01-300x300.jpg

    三軸探針臂

    三軸探針臂專為高精度電性量測而設計，採用三層導電結構，可有效降低雜訊並提升訊號品質，特別適用於敏感半導體元件測試及高頻應用。
  • Read More
    M60.jpg

    M60 高頻探針用微操作器

    M60 高頻探針用微操作器可提供精準定位與細微調整，確保探針對位的準確性。
  • Read More
    M40.jpg

    M40 微操作器

    M40 微操作器可提供精準定位與細微調整，確保探針對位的準確性。
  • Read More
    M30.jpg

    M30 微操作器

    M30 微操作器可提供精準定位與細微調整，確保探針對位的準確性。
  • Read More
    M20.jpg

    M20 微操作器

    M20 微操作器提供精確定位與細微調整，以確保探針的準確對位。
  • Read More
    test fixure-1.png

    SJD-3000V/20A 測試治具

    SJD-3000V/20A 測試治具適用於高電壓與高電流環境，提供電氣連接以進行訊號與電源測試，實現精準測量與分析。
  • Read More
    AKS-200-PCB Probing Connection Box-1.png

    AKS-200 PCB 探針連接盒

    AKS-200 PCB 探針連接盒（5 進/出組）