Japan APOLLOWAVE 半自動探針台 AP-150
高精度・高功率・高頻量測的一站式解決方案
AP-150 是日本 APOLLOWAVE 推出的高效能半自動探針台，專為先進半導體元件量測而設計。系統可靈活因應低漏電、高電壓／高電流及毫米波高頻量測需求，協助研發與測試團隊實現接近測試機（Tester）等級的量測效能。
全方位量測能力，滿足高階測試需求
AP-150 可支援多種嚴苛量測條件，廣泛應用於功率元件、先進製程與高頻元件測試：
- fA 等級低漏電流量測，適用於高靈敏度元件分析
- 高功率量測能力，支援超過 3 kV / 100 A
- 毫米波高頻量測，滿足高頻與次世代通訊元件測試需求
高頻量測最佳化設計
AP-150 可搭配 Allstron RF 探針，全面支援毫米波量測應用，並標配校正套件平台（Calibration Kit Stage），有效提升高頻量測準確度與操作便利性。
緊湊設計 × 高效操作
- 機身深度僅約 500 mm，節省實驗室與產線空間
- 高效能控制軟體，操作直覺、流程順暢，加速測試效率
- 支援多元測試設定，靈活因應不同量測場景
依應用需求可選擇：
- 垂直式探針對準功能