SJD AK-S、APW AP 系列

  1. SJD AK-S、APW AP 系列
日本 APOLLOWAVE 半自動探針台 AP-300

日本 APOLLOWAVE 半自動探針台 AP-300

AP-300 12 吋半自動探針台整合馬達化平台控制與可程式化測試功能，搭配高精度探針對位技術，可全面支援 12 吋晶圓量測需求。其穩定可靠的設計，為半導體元件提供高效率、高準確度的測試與特性分析解決方案，是研發與量產測試的理想選擇。
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DETAIL
Japan APOLLOWAVE半自動探針系統 AP-300
AP-300 半自動探針系統專為高功率元件與高可靠度量測需求所設計，結合先進溫控技術、低雜訊環境與智慧化操作軟體，提供高效率且高精度的半導體測試解決方案。

寬溫量測能力
  • 支援 –60°C 至 +350°C 的溫度特性評估
  • 適用於高溫、高可靠度元件之特性分析與驗證
高功率量測解決方案
  • 專為高功率元件設計
  • 支援 最高 20kV DC / 200A 的量測需求
低雜訊與防結露設計
  • 配備緊湊型防護罩（Compact Shield），有效抑制結露現象
  • 提供穩定的低雜訊量測環境，確保測試結果準確可靠
高效率智慧化操作
  • 搭載 APOLLOWAVE 專屬軟體，大幅提升測試效率
  • 透過影像辨識技術，可實現
    • 自動晶圓對位
    • 自動晶片對位
  • 降低人為操作誤差，提升整體量測一致性

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