探針卡

參數測試探針卡

參數測試探針卡

該參數測試探針卡可在 低溫至高溫(-55°C 至 200°C) 環境下進行測試,能測量 極低電流 (<10 fA),並兼容 Agilent 4060、4070 及 4080 系列 測量儀器。
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DETAIL

可在 低溫至高溫(-55°C~200°C) 環境下測量
 支援測量 極低電流(<10 fA)
兼容 Agilent 4060、4070、4080 系列 測量儀器