可在 低溫至高溫(-55°C~200°C) 環境下測量
支援測量 極低電流(<10 fA)
兼容 Agilent 4060、4070、4080 系列 測量儀器
探針卡
參數測試探針卡
參數測試探針卡
該參數測試探針卡可在 低溫至高溫(-55°C 至 200°C) 環境下進行測試,能測量 極低電流 (<10 fA),並兼容 Agilent 4060、4070 及 4080 系列 測量儀器。
DETAIL
可在 低溫至高溫(-55°C~200°C) 環境下測量
支援測量 極低電流(<10 fA)
兼容 Agilent 4060、4070、4080 系列 測量儀器