SJD AK-S、APW AP 系列

  1. SJD AK-S、APW AP 系列
日本 APOLLOWAVE AP-200 半自動探針測試台

日本 APOLLOWAVE AP-200 半自動探針測試台

AP-200 8 吋半自動探針測試台配備馬達驅動載台，可進行精準對位；支援可程式化測試功能，有效提升測試流程效率。搭載高解析度光學觀察系統，並可支援最高 8 吋晶圓，滿足多元晶圓量測需求。
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DETAIL

日本 APOLLOWAVE 半自動探針台AP-200
高功率 × 極端溫度晶圓測試解決方案
APOLLOWAVE AP-200 半自動探針測試系統，專為高功率元件與嚴苛測試環境而設計。結合極寬溫控範圍、低雜訊測試環境與智慧化自動對位技術，提供穩定、高效率且高度可靠的晶圓量測體驗，廣泛適用於先進功率元件與研發應用。

極端溫度測試能力

  • 支援溫度特性評估範圍 –60°C 至 +350°C
  • 適用於高低溫與熱特性分析需求
高功率量測解決方案
  • 專為 高功率元件 打造
  • 支援最高 20 kV DC / 200 A 量測條件
低雜訊與防結露設計
  • 緊湊型防護遮罩（Compact Shield），有效抑制結露現象
  • 提供穩定的 低雜訊量測環境，提升測試準確度
智慧化軟體與自動對位
  • 搭載 APOLLOWAVE 專屬軟體，大幅提升測試效率
  • 透過 影像辨識技術，實現自動晶圓對位與自動晶粒（Chip）對位
     

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