SJD AK-MS、AK-ACC

同軸探針臂

同軸探針臂

同軸探針臂透過中心導體與外層屏蔽設計,確保精準的電性接觸與測量,有效降低干擾並提供穩定訊號傳輸,特別適用於半導體元件與高頻 (RF) 設備測試。
DETAIL

同軸探針臂 / BNC 測試探針(Coaxial Probe with BNC Output)
適用於各種電性測量需求,提供穩定訊號傳輸與靈活連接選項,方便半導體與高頻元件測試。

連接與訊號輸出

  • 探針連接器:BNC(可選配 SMA
  • 線材:同軸電纜
  • 線長可依需求訂製
使用方式
  • 將探針端安裝於測試點,即可進行各種測量
  • 適用於半導體晶圓、高頻裝置等多種電性測試場景
應用優勢
  • 穩定訊號傳輸,降低干擾

支援多種測試環境與設備